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随着电气元件的尺寸越来越小，质量标准越来越严格，市场对灵活且具有较高成本收益率的高分辨率 x 射线检测系统的需求日盛。多年来，x射线ct一直用于实验室中的样品内部检测，例如化石和人工制品等。

近来，该技术在制造环境的质量控制应用中发挥着重要作用。它能够无损检测零件和装配件内部的空隙、毛刺、裂纹和其他缺陷，包括额外制造的零件和装配件。它还可以作为一种计量工具，用以确保内部和外部尺寸符合高精度要求。

xtv 160

主要应用于电子元件和半导体实时和自动检测、失效分析;

xt v 160专为生产线和失效分析实验室应用而设计。用户可以为 xt v 160系统各组成部分挑选高品质零部件，根据自身需求优化系统性能。除了可以手动实时检测外，还支持全自动化检测流程，从而极大提高了生产力。

多种平板探测器可供选购；
专利 nanotech 160 kv i 20 w 微焦斑源，具有亚微米特征识别功能；
5 轴操控装置 (x、y、z、旋转、倾斜)；
360°环绕视角始终将目标区域锁定在视场中央；
实时成像或自动检测；
可用于 ct 应用(选购)；

xth 225

主要应用于汽车领域对中小型铸件进行检测；

零件和装配件内部特性的详细拍摄和测量对于质量控制、缺陷分析和材料研究而言至关重要。入门级xth 225系统功能丰富，它配备了一个微焦点x射线源、可检测中小尺寸样品，且具有高分辨率图像。xt h225可用于超快ct重构，广泛适用于各类应用领域，包括塑料零件、小型铸件和复杂机械装置的检测，以及材料和自然标本的研究。

功能强大的 225kv 微焦点源；
实时 x 射线可视化、快速 ct 重构；
***250mm 和 600mm高度的 ct 测量尺寸；

xth 450

主要对大型铸件和高密度金属器件进行检测；

xt h 450系统提供足够的射线源功率以穿透高密度零件并产生微米精度的无散射ct图像。该设备的核心是一个450千伏微焦点源，它以450瓦功率提供足够的x射线功率穿透高密度样品，并同时获得高分辨率和精度。该系统配有平板探测器 (用于三维锥形束ct) 或专有的弯曲线性二极管阵列 (clda)用于二维扇形束ct)，可优化x射线的收集，不会捕获不需要的散射射线。

独有的450kv 微焦点源；
*** 600mm 直径和 600mm 高度的测量尺寸；

适配软件

inspect-x是尼康的第六代x射线和ct系统的通用软件，在业界***。围绕用户体验设计，它拥有高级，直观的gui，流水线式的工作流程，达到高产的ct检测。inspect-x提供交互式可视化以实现完美的图像质量，同时还提供自动化pg游戏库最新版本的解决方案和高级扫描模式，以产生高分辨率、高对比度和高质量的数据。

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